sem是什么分析仪器？
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。
二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。
sem化学表征是什么意思？
1.sem在材料化学上代表扫描电子显微镜。
2.扫描电子显微镜类型多样,不同类型的扫描电子显微镜存在性能上的差异。根据电子枪种类可分为三种:场发射电子枪、钨丝枪和六硼化镧。其中, 场发射扫描电子显微镜根据光源性能可分为冷场发射扫描电子显微镜和热场发射扫描电子显微镜。
fesem分析是指什么？
FESEM是（field emission scanning electron microscopy）的简写，意思是场发射扫描电子显微镜；SEM是(scanning electron microscopy) 的简写，意思是扫描电子显微镜。FESEM和SEM的简单区别就是发射电子的装置不一样，一个使用灯丝，一个使用的场发射。场发射能量高，电子束可以更细。
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
fesem和sem的区别？
FESEM是（field emission scanning electron microscopy）的简写，意思是场发射扫描电子显微镜；SEM是(scanning electron microscopy) 的简写，意思是扫描电子显微镜。FESEM和SEM的简单区别就是发射电子的装置不一样，一个使用灯丝，一个使用的场发射。场发射能量高，电子束可以更细。
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析，因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
场发射扫描电子显微镜（FESEM）是电子显微镜的一种。该仪器具有超高分辨率，能做各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子象观察及图像处理。该仪器利用二次电子成像原理，在镀膜或不镀膜的基础上，低电压下通过在纳米尺度上观察生物样品如组织、细胞、微生物以及生物大分子等，获得忠实原貌的立体感极强的样品表面超微形貌结构信息。 具有高性能X射线能谱仪，能同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化学组分综合分析能力。
sem与tem相比的结构特点？
SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy.
SEM：即扫描电子显微镜，是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。
SEM的优点：
（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
（二） 样品制备过程简单，不用切成薄片。
（三） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。
（四） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。
（五） 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。
（六） 电子束对样品的损伤与污染程度较小。
（七） 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。
SEM的缺点：
①异常反差。 由于荷电效应，二次电子发射受到不规则影响，造成图像一部分异常亮，另一部分变暗。
②图像畸形。 由于静电场作用使电子束被不规则地偏转，结果造成图像畸变或出现阶段差。
③图像漂移。 由于静电场作用使电子束不规则偏移引起图像的漂移。 ④亮点与亮线。 带电样品常常发生不规则放电，结果图像中出现不规则的亮点和亮线。
TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.
TEM：即透射电子显微镜，简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”
TEM的优点
SEM是什么显微镜？
SEM是扫描电子显微镜，是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。
新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大, 视野大, 成像立体效果好。此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。
扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。
sem的原理及应用？
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope ，缩写 为SEM），简称扫描电镜，是利用细聚焦电子束在样品表面扫 描时激发出来的各种物理信号来调制成像的一种常用的显微分 析仪器。
电子枪产生的电子束经过电磁透镜聚焦，扫描线圈控制电子 束对样品进行扫描，与样品相互作用产生各种物理信号，探测 器将物理信号转换成图像信息。样品不同的形貌表现出不同的衬度（图像不同部位之间的亮度差异），因此扫描电子显微镜 可以观察到样品的表面的形貌。
注意，突出的尖棱，小粒子和比较陡峭的斜面处二次电子产 额较多，在图像上表现为亮度较大。平面的二次电子产率较 小，在图像上表现为亮度较低。在深的凹槽处二次电子产率也 高，但是，二次电子离开样品表面的数量少，在图像上表现为 较暗。
什么是扫描镜？
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope， SEM)是一种电子显微镜，它通过用聚焦电子束扫描表面来产生样品的图像。电子与样品中的原子相互作用，产生包含样品表面形貌和成分信息的各种信号。
电子束的扫描路径形如光栅，将电子束的位置与检测信号的强度相结合即可输出图像。
